高壓定子繞組在制造中，用半導體填充物將繞組緊固在槽內(nèi)，以減小或消除繞組異體表面與鐵芯疊片之間的空隙，并防止繞組表面對鐵芯接地。

在發(fā)電機運行期間，由于定子繞組導體與鐵芯之間電場的作用，使與繞組絕緣串聯(lián)的小氣隙發(fā)生高能量的放電，這種放電能損壞繞組絕緣或使絕緣出現(xiàn)傷痕，從熱和機械的觀點看，將影響繞組的壽命。為此，提出高壓定子繞組的槽放電試驗。

槽放電試驗的基本原理是當標準空隙燃弧或接地時，比較加在繞組與地之間的交流電壓波形，如果波形異常還必須用探針法對繞組分相進行試驗，以較每槽的放電狀態(tài)，若波形無異常變化，則表明繞組無放電現(xiàn)象。

槽放電試驗可以確定繞組時否遭受上述放電的作用。在停電期間，將這個試驗與其他試驗（如直流泄漏電流、耐壓試驗等）結(jié)合起來，能夠更全面地鑒定定子繞組的狀態(tài)。 當不可能做槽放電試驗時，可以用低電壓儀器測量每相上部繞組與鐵芯間的接觸電阻，若測量結(jié)果與平均讀數(shù)有異常偏差，則說明繞組是有問題的。

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